Informace o projektu
Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
- Kód projektu
- MSM 143100002
- Období řešení
- 1/1999 - 12/2004
- Investor / Programový rámec / typ projektu
-
Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR
- Výzkumné záměry
- Fakulta / Pracoviště MU
- Přírodovědecká fakulta
Výsledky
Elektrické, optické a strukturní vlastnosti látek s různou dimenzionalitou. Metody infračervené spektroskopie.
Publikace
Počet publikací: 213
1998
-
Silicon-germanium alloys (Si x Ge 1-x) revisited
Handbook of optical Constants of solids III, vydání: Vyd. 1, rok: 1998, počet stran: 16 s.
-
Structural characterization of self-assembled Ge dot multilayers by x-ray diffraction and reflectivity methods
Physica E 2, rok: 1998, ročník: 1998, vydání: -
-
X-ray reflection by multilayer surface gratings
Physica B condensed matter, rok: 1998, ročník: 248, vydání: 9999
1997
-
Diffuse X-ray reflection from multilayers with stepped interfaces
Physical Review B, rok: 1997, ročník: (55)1997, vydání: 15
-
Diffuse x-ray scattering from epitaxial thin layers
Surface Investigation, rok: 1997, ročník: 1997, vydání: 12
-
Excitonic effects in free-standing ultrathin GaAs films
Phys. Rev. B, rok: 1997, ročník: 1997, vydání: 55
-
High resolution X-ray diffraction and reflectivity studies f vertical and lateral ordering in multiple self-organized InGaAs quantum dots
Jpn.J.Appl.Phys., rok: 1997, ročník: 36(1997), vydání: 6B
-
High-resolution X-ray diffraction from multilayered self-assembled Ge dots
Physical Review B, rok: 1997, ročník: (55)1997, vydání: 23
-
Interface study of W/Si multilayers with increasing number of periods
II Nuovo Cimento, rok: 1997, ročník: 1997, vydání: 19 D
-
Lateral and vertical ordering in multilayered self-organized InGaAs quantum dots studied by high resolution X-ray diffraction
Appl.Phys. Lett., rok: 1997, ročník: (70)1997, vydání: 8