Structural characterization of self-assembled Ge dot multilayers by x-ray diffraction and reflectivity methods

Varování

Publikace nespadá pod Fakultu sportovních studií, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.
Autoři

DARHUBER A.A. HOLÝ Václav SCHITTENHELM P. STANGL J. KEGEL I. KOVATS Z. METZGER T.H. BAUER G. ABSTREITER G. GRUEBEL G.

Rok publikování 1998
Druh Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj Physica E 2
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
Obor Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova multilayers by x-ray
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.

Další info