Structural characterization of self-assembled Ge dot multilayers by x-ray diffraction and reflectivity methods

• Autoři: DARHUBER A.A.; HOLÝ Václav; SCHITTENHELM P.; STANGL J.; KEGEL I.; KOVATS Z.; METZGER T.H.; BAUER G.; ABSTREITER G.; GRUEBEL G.
• Rok publikování: 1998
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: Physica E 2
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus
• Klíčová slova: multilayers by x-ray

Související projekty

• Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur