Grazing incidence small-angle x-ray scattering study of self-organized SiGe wires

Logo poskytovatele

Varování

Publikace nespadá pod Fakultu sportovních studií, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.
Autoři

HOLY V. ROCH T. STANGL J. BAUER G.

Rok publikování 2001
Druh Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj Phys. Rev. B
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
Obor Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova KINETIC GROWTH INSTABILITIES; VICINAL SI(001) SURFACES; STEPPED INTERFACES; GE ISLANDS; MULTILAYERS; DIFFRACTION; SI(113); STRAIN
Popis The structure of self-organized quantum wires buried at the interfaces of a SiGe/Si multilayer is investigated by grazing incidence small-angle x-ray scattering. A nearly periodic distribution of wires, well described by a short-range ordering model, gives rise to intensity satellite maxima in reciprocal space. The shape of the wire cross section is determined from the heights of these intensity maxima, and the analysis reveals that the conventional step-bunching model is not sufficient to explain the wire shape.
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.

Další info