2010

• Near-field optical microscopy simulations using graphics processing units

  KLAPETEK Petr VALTR Miroslav

  Článek v odborném periodiku

  Surface and Interface Analysis, rok: 2010, ročník: 42/2010, vydání: 6

• Rough surface scattering simulations using graphics cards

  KLAPETEK Petr VALTR Miroslav PORUBA Aleš NEČAS David OHLÍDAL Miloslav

  Článek v odborném periodiku

  Applied Surface Science, rok: 2010, ročník: 2010, vydání: 256

2009

• Combined method of spectroscopic ellipsometry and photometry as an efficient tool for the optical characterisation of chalcogenide thin films

  FRANTA Daniel NEČAS David OHLÍDAL Ivan HRDLIČKA Martin PAVLIŠTA Martin FRUMAR Miloslav OHLÍDAL Miloslav

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Optoelectronics and Advanced Materials, rok: 2009, ročník: 11, vydání: 12

• Precise measurement of thickness distribution of non-uniform thin films by imaging spectroscopic reflectometry

  OHLÍDAL Miloslav OHLÍDAL Ivan KLAPETEK Petr NEČAS David

  Článek ve sborníku

  Proceedings of IMEKO XIX World Congress, rok: 2009

2008

• Characterization of near field optical microscope probes

  KLAPETEK Petr VALTR Miroslav KLENOVSKÝ Petr BURŠÍK Jiří

  Článek v odborném periodiku

  Surface and Interface Analysis, rok: 2008, ročník: 40, vydání: 1

• Influence of cross-correlation effects on the optical quantities of rough films

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan NEČAS David

  Článek v odborném periodiku

  Optics Express, rok: 2008, ročník: 16, vydání: 11

• Near field scanning optical microscopy studies of thin film surfaces and interfaces

  KLAPETEK Petr BURŠÍK Jiří

  Článek v odborném periodiku

  Applied Surface Science, rok: 2008, ročník: 254, vydání: 12

• Near-field scanning optical microscope probe analysis

  KLAPETEK Petr BURŠÍK Jiří VALTR Miroslav MARTÍNEK Jan

  Článek v odborném periodiku

  Ultramicroscopy, rok: 2008, ročník: 108, vydání: 7, DOI

• Optical characterization of non-stoichiometric silicon nitride films

  NEČAS David PEŘINA Vratislav FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan ZEMEK Josef

  Článek v odborném periodiku

  physica status solidi (c), rok: 2008, ročník: 5, vydání: 5

2007

• Electromagnetic field distribution modelling in microlenses fabrication process

  KLAPETEK Petr WAGNER Tomáš ORAVA Jiří

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Physics and Chemistry of Solids, rok: 2007, ročník: 68, vydání: 5-6