Near-field scanning optical microscope probe analysis
| Název česky | Analýza sondy mikroskopu blízkého pole |
|---|---|
| Autoři | |
| Rok publikování | 2008 |
| Druh | Článek v odborném periodiku |
| Časopis / Zdroj | Ultramicroscopy |
| Fakulta / Pracoviště MU | |
| Citace | |
| Doi | http://dx.doi.org/10.1016/j.ultramic.2007.10.014 |
| Obor | Optika, masery a lasery |
| Klíčová slova | NSOM;Artifacts |
| Popis | V tomto článku je prezentováno srovnání dvou metod na charakterizaci NSOM sond. Analýza pomocí řádkovacího elektronového mikroskopu zkombinovaná s modelováním elektromagnetického pole metodou FDTD je porovnávána s vyzařovacími diagramy NSOM sond ve vzdáleném poli. Je ukázáno, že měření těchto diagramů může být efektivním nástrojem pro každodenní kontrolu kvality NSOM sond. Navíc je ukázáno, že vnitřní geometrie sondy má velký vliv na směrové vyzařování sondy a že vyzařovací diagram ve vzdáleném poli může být použit jako jednoduchá metoda pro rozlišení mezi různými geometriemi sond. |
| Související projekty: |