Diffuse x-ray reflectivity of strain-compensated Si/SiGe/SiC multilayers

• Autoři: GRIM Jan; HOLÝ Václav; KUBĚNA Josef; STANGL J.; DARHUBER A.A.; ZERLAUTH S.; SCHÄFFLER F.; BAUER G.
• Rok publikování: 1999
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: Semicond. Sci. Technol.
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus

Související projekty

• Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur