Independent analysis of mechanical data from atomic force microscopy
| Název česky | Nezávislá analýza mechanických dat z mikroskopie atomové síly |
|---|---|
| Autoři | |
| Rok publikování | 2014 |
| Druh | Článek v odborném periodiku |
| Časopis / Zdroj | Measurement Science and Technology |
| Fakulta / Pracoviště MU | |
| Citace | |
| www | Vydavatel |
| Doi | http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/25/4/044009 |
| Obor | Senzory, čidla, měření a regulace |
| Klíčová slova | atomic force microscopy; mechanical properties; volume data |
| Přiložené soubory | |
| Popis | Současné AFM mikroskopy dokáží získávat velké objemy dat měřením bodových křivky síla-vzdálenost. Ačkoli se používají různé obchodní známky a různé technické implementace, ve většině technik se měření křivka síla-vzdálenost v každém pixelu obrázku, a tato křivka se okamžitě fituje nějakou teoretickou závislostí a výsledky se zobrazují jako mechanické vlastnosti materiálu (Youngův modul, adheze, etc.). Výsledky se zpracovávají přímo během měření v řídicí jednotce skenující sondy mikroskopu nebo poté softwarem poskytovaným výrobcem. Tento čláínek představuje softwarový nástroj pro nezávislé numerické zpracování takovýchto dat, s použitím více numerických modelů pro vyhodnocení křivky síla-vzdálenost a zahrnující jednoduchý odhad nejistot vztahujících se k fitovací proceduře. To může zlepšit věrohodnost výsledků a možnosti analýzy mechanických vlastností mapovacích módů v mikroskopii atomové síly. |
| Související projekty: |