Informace o projektu
Nanometrologie využívající metod rastrovací sondové mikroskopie
- Kód projektu
- KAN311610701
- Období řešení
- 1/2007 - 12/2011
- Investor / Programový rámec / typ projektu
-
Akademie věd ČR
- Nanotechnologie pro společnost
- Fakulta / Pracoviště MU
- Přírodovědecká fakulta
- Spolupracující organizace
-
Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
- Odpovědná osoba Ing. Dr. Petr Lazar, Dr.
- Odpovědná osoba Mgr. Petr Klapetek, Ph.D.
Publikace
Počet publikací: 58
2011
-
Mechanical properties of thin films deposited by TVA and G-TVA methods
Chemicke Listy, rok: 2011, ročník: 105/2011, vydání: 14
-
Mechanical Properties of Ultrananocrystalline Thin Films Deposited Using Dual Frequency Discharges
CHEMICKÉ LISTY, rok: 2011, ročník: 105, vydání: CHLSAC 105
-
Methods for determining and processing 3D errors and uncertainties for AFM data analysis
Measurement Science and Technology, rok: 2011, ročník: 22, vydání: 2, DOI
-
Role vodíku na strukturální změny SiGe:H vrstev
Sborník příspěvků 5. České fotovoltaické konference, rok: 2011
2010
-
Diagnostics of plasma at atmospheric pressure by optical emission spectroscopy using broadening of lines
24 Symposium on Plasma Physics and Technology, rok: 2010
-
ELECTRON DENSITY OF PLASMA PENCIL DISCHARGE ESTIMATED BY BROADENING OF THE SPECTRAL ATOMIC LINES
Rok: 2010
-
MICROWAVE PLASMA SYNTHESIS OF IRON NANOPARTICLES
Nanocon 2010 Conference Proceedings, rok: 2010
-
Near-field optical microscopy simulations using graphics processing units
Surface and Interface Analysis, rok: 2010, ročník: 42/2010, vydání: 6
-
Near-field scanning optical microscopy local luminescence studies of rhodamine dye
Central European Journal of Physics, rok: 2010, ročník: 8/2010, vydání: 3
-
Optical and mechanical characterization of ultrananocrystalline diamond films prepared in dual frequency discharges
Surface & coatings technology, rok: 2010, ročník: 204, vydání: 12-13