Monitoring of PVD, PECVD and etching plasmas using Fourier components of RF voltage
Název česky | Monitoruvání PVD, PECVD a leptacích plazmových procesů pomocí Fourierových komponent vf. napětí |
---|---|
Autoři | |
Rok publikování | 2010 |
Druh | Článek v odborném periodiku |
Časopis / Zdroj | Plasma Physics and Controlled Fusion |
Fakulta / Pracoviště MU | |
Citace | |
www | https://iopscience.iop.org/article/10.1088/0741-3335/52/12/124011 |
Doi | http://dx.doi.org/10.1088/0741-3335/52/12/124011 |
Obor | Fyzika plazmatu a výboje v plynech |
Klíčová slova | plasma; higher harmonic frequencies; capacitively coupled discharge; reactive magnetron sputtering; DLC |
Popis | Fourierovy složky výbojového napětí a napětí nekompenzované sondy byly použity k monitorování dvou různých depozičních procesů. Byly testovány fyzikální důvody reakce Fourierových složek na přítomnost vrstvy. |
Související projekty: |
|