Homogenization of CZ Si wafers by Tabula Rasa annealing
Název česky | Homogenizace CZ Si desek pomocí žíhání Tabula Rasa |
---|---|
Autoři | |
Rok publikování | 2009 |
Druh | Konferenční abstrakty |
Fakulta / Pracoviště MU | |
Citace | |
Popis | Rozdíly v precipitaci kyslíku, morfologie precipitátů a vývoj bodových defektů byly studovány pomocí experimentálních technik jako jsou infračervená absorpce, transmisní elektronová mikroskopie, leptací techniky a rtg difrakce. |
Související projekty: |