Thermal stability of SiOxCyHz films prepared by PECVD
Název česky | termální stabilita SiOxCyHz vrstev připravených metodou PECVD |
---|---|
Autoři | |
Rok publikování | 2005 |
Druh | Článek v odborném periodiku |
Časopis / Zdroj | Chemické listy |
Fakulta / Pracoviště MU | |
Citace | |
Obor | Fyzika plazmatu a výboje v plynech |
Klíčová slova | thermal stability; TDS; PECVD; FTIR; RBSW; ERDA |
Popis | Termální stabilta vrstev SiOxCyHz připravovaných metodou PECVD byla studována pomocí TDS, FTIR, RBS, ERDA and spectroskopické elipsometrie. |
Související projekty: |