Atomic force microscopy characterization of ZnTe epitaxial films

Varování

Publikace nespadá pod Fakultu sportovních studií, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Autoři	KLAPETEK Petr OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel MONTAIGNE-RAMIL Alberto BONANNI Alberta STIFTER David SITTER Helmut
Rok publikování	2003
Druh	Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj	Acta Physica Slovaca
Fakulta / Pracoviště MU	Přírodovědecká fakulta
Citace
www	http://hydra.physics.muni.cz/~franta/bib/APS53_223.html
Obor	Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova	OPTICAL METHODS; THIN-FILMS; GOLD
Popis	In this paper results of a characterization of the surfaces of ZnTe epitaxial thin films exhibiting the different thicknesses are presented. The results mentioned are obtained using the procedures enabling us to determine the values of the following quantities: mean grain size, grain size distribution, root-mean square values of the heights of the irregularities and the diagram describing the distribution of the directions of the normals. For the analysis of the grain structure a watershed algorithm is used. It is shown that the values of these quantities can describe the morphology of the ZnTe film surfaces in a sufficient way. Further, it is shown that the structure of the surfaces of the ZnTe films exhibit facets forming a grain structure. Moreover, it is presented that the ZnTe film surfaces exhibit a strong slope anisotropy and that the linear dimensions of the grains increase with increasing values of the thicknesses of the ZnTe films.
Související projekty:	Studium plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek