Optical characterisation of a thick MOVPE InSb film on GaAs

• Autoři: LORENC Michal; ŠIK Jan; NEBOJSA Alois; NAVRÁTIL Karel; HUMLÍČEK Josef; VORLIČEK V.; HULICIUS E.
• Rok publikování: 1999
• Druh: Článek ve sborníku
• Konference: Workshop proceedings EW MOVPE VIII
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus
• Klíčová slova: MOVPE; InSb; ellipsometry; reflectance; Raman; annealing
• Popis: Optical characterisation of a thick MOVPE InSb film on GaAs

Související projekty

• Kvantové tečky v polovodičích III-V
• Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur