Far-infrared Ellipsometry of Depleted Surface Layer in Heavily Doped N-type GaAs
Autoři | |
---|---|
Rok publikování | 1996 |
Druh | Článek v odborném periodiku |
Časopis / Zdroj | Appl. Phys. Lett. |
Fakulta / Pracoviště MU | |
Citace | |
Obor | Fyzika pevných látek a magnetismus |
Související projekty: |