Ellipsometry of Layered Systems

Varování

Publikace nespadá pod Fakultu sportovních studií, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.
Autoři

OHLÍDAL Ivan VOHÁNKA Jiří ČERMÁK Martin FRANTA Daniel

Rok publikování 2018
Druh Kapitola v knize
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
Popis In this chapter the theoretical aspects of ellipsometry and their applications in optics of layered systems are presented. The basic formulae of the theory of ellipsometric measurements are introduced. For this purpose the Jones and Stokes--Mueller matrix formalisms are used. By using these formalisms the individual types of ellipsometry and the most utilized ellipsometric techniques are briefly described. Furthermore, the matrix formalisms enabling us to derive the formulae for the optical quantities of optically isotropic and anisotropic layered systems are described as well. Applications of the matrix formalisms in practice are illustrated by means of three examples.
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.

Další info